JIS H1322-1976 镁锭的发射光谱化学分析方法

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【英文标准名称】:Methodforemissionspectrochemicalanalysisofmagnesiumingot
【原文标准名称】:镁锭的发射光谱化学分析方法
【标准号】:JISH1322-1976
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1976-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonNon-FerrousMetals
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铸锭;光谱学;铸造工艺;光谱化学分析;发射分光光度测定法;有色金属;镁;分光光度法
【英文主题词】:spectrochemicalanalysis;spectroscopy;emissionspectrophotometry;spectrophotometry;;;ingots;casting(process)
【摘要】:この規格は,JISH2150(マグネシウム地金)に規定された化学成分(アルミニウム,銅,鉄,マガンガン,けい素,ニッケル及び亜鉛)の写真測光法による発光分光分析方法について規定する。
【中国标准分类号】:H12
【国际标准分类号】:77_120_20
【页数】:6P;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:Specificationforrearward-facingrestrainingdevicesforinfantsforuseinroadvehicles
【原文标准名称】:用于道路车辆尾部保护幼儿的后向约束装置规范
【标准号】:BSAU202a-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-06-28
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:T26
【国际标准分类号】:
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:电子器件详细规范 半导体集成电路CE10121型ECL4路3-3-3-3输入或与/或与非门(可供认证用)
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
替代情况:调整为SJ/T 10849-1996
发布日期:1900-01-01
实施日期:1987-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:15页
适用范围

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前言

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路